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セミナー詳細

2016年01月26日

連続ブロック表面走査型電子顕微鏡(SBF-SEM)による3次元形態観察の特徴と応用

日 時 2016年01月26日(火) 12:10 より 13:00 まで
講演者 宮崎直幸 先生
講演者所属 脳機能計測・支援センター 形態情報解析室
場 所 生理研明大寺地区1階セミナー室
お問い合わせ先 乾 幸二(生理研・感覚運動調節研究部門 #7754)
要旨

連続ブロック表面走査型電子顕微鏡(SBF-SEM)は、樹脂に包埋した試料ブロックの表面をダイヤモンドナイフで薄く削り、ブロック表面に現れてきた構造をSEMにより記録するという過程を繰り返し、試料の連続断層像を得る最先端電子顕微鏡装置である。そして、その連続断層像から3次元構造を再構成することで、細胞や細胞小器官の微細構造やその分布を3次元で解析することが可能となる。形態情報解析室では、この装置を用いて単一の細胞から構成される酵母や血球などの単一細胞全体の形態解析から、組織内での細胞間ネットワーク解析までさまざまな形態に関わる解析を行っている。本セミナーでは、このSBF-SEMの原理と特徴、さらにその特徴を生かした最近の観察例をいくつか紹介したい。